《電子電路CAD》課程實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書
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1、Four short words sum up what has lifted most successful individuals above the crowd: a little bit more. ------------------------------------------author ------------------------------------------date 《電子電路CAD》課程實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書 實(shí)驗(yàn)二 基本電路特性分析實(shí)驗(yàn) 《電子電路CAD》 課程實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書 潘銀松 薛 聯(lián)
2、 光電工程學(xué)院 2009年3月 -------------------------------------------------- 目 錄 實(shí)驗(yàn)一 電路圖繪制及基本電路特性分析實(shí)驗(yàn) 1 實(shí)驗(yàn)二 參數(shù)掃描分析和統(tǒng)計(jì)分析實(shí)驗(yàn) 7 實(shí)驗(yàn)三 電路性能分析實(shí)驗(yàn) 14 實(shí)驗(yàn)四 邏輯電路、數(shù)/?;旌想娐贩治鰧?shí)驗(yàn) 21 實(shí)驗(yàn)五 綜合應(yīng)用實(shí)驗(yàn) 26 實(shí)驗(yàn)六 電路印制板設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn) 28 練 習(xí) 題 31 附錄一 實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式要求 34 附錄二 實(shí)驗(yàn)五參考波形 35 附錄三 常用庫(kù)文件名及元器件 38
3、 實(shí)驗(yàn)一 電路圖繪制及基本電路特性分析實(shí)驗(yàn) 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 熟悉并掌握OrCAD/PSpice軟件的使用,并掌握用Capture軟件包正確繪制電路圖的方法和步驟;熟悉并初步學(xué)會(huì)用OrCAD/PSpice軟件進(jìn)行基本電路特性分析的方法。 二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及步驟 1. 差分對(duì)放大電路的基本特性分析 A.電路圖繪制部分 1Vac 0Vdc 通過(guò)繪制下圖所示的差分對(duì)放大電路圖,熟悉OrCAD/PSpice軟件環(huán)境設(shè)置及電路圖繪制方法。 用OrCAD/Capture軟件生成電路圖的方法和步驟: (1)調(diào)用Page Editor ①在數(shù)據(jù)盤中建立自己的文件夾。注意:
4、文件夾名不能用中文命名。 ②執(zhí)行程序中OrCAD Release 9.1/Capture CIS啟動(dòng)Capture軟件,執(zhí)行File/New/ Project子命令新建設(shè)計(jì)項(xiàng)目,在Name欄內(nèi)輸入設(shè)計(jì)項(xiàng)目名稱,在設(shè)計(jì)項(xiàng)目類型欄內(nèi)選擇“Analog or Mixed Signal Circuit”選項(xiàng),在路徑名欄內(nèi)選擇第①步建立的文件夾。注意:設(shè)計(jì)項(xiàng)目名稱只能用英文、數(shù)字、拼音命名。 ③按默認(rèn)的方式配置元器件符號(hào)庫(kù)。 ④啟動(dòng)Page Editor模塊。 ⑤根據(jù)需要設(shè)置運(yùn)行環(huán)境參數(shù),也可采用系統(tǒng)的默認(rèn)設(shè)置。 (2)繪制電路圖 ①繪制元器件符號(hào):從OrCAD/Capture符號(hào)庫(kù)中調(diào)用
5、合適的元器件符號(hào),如電阻、電容、晶體管、電源和接地符號(hào)等放于電路圖中合適的位置。對(duì)分層式的電路設(shè)計(jì),還需繪制各層次框圖。 ②元器件間的電連接:包括互連線、總線、電連接標(biāo)識(shí)符、節(jié)點(diǎn)符號(hào)及節(jié)點(diǎn)名等。對(duì)分層式的電路設(shè)計(jì),還需繪制框圖端口符。 ③繪制電路圖中輔助元素:圖紙標(biāo)題欄、添加“書簽”、繪制特殊符號(hào)以及注釋性文字說(shuō)明。 (3)檢查并修改電路圖. (4)將繪制完成的電路圖利用復(fù)制、粘貼的方式輸出到Word文檔的實(shí)驗(yàn)報(bào)告中。 提示:圖中的雙極晶體管Q1、Q2、Q3和Q4從BIPOLAR.olb符號(hào)庫(kù)中調(diào)用;電容CLOAD和電阻RBIAS、RC1、RC2、RS1、RS2從ANALOG.olb
6、庫(kù)中調(diào)用符號(hào)C和符號(hào)R;V1調(diào)用SOURCE.olb庫(kù)中的VAC符號(hào);V2和V3調(diào)用SOURCE.olb庫(kù)中的VDC符號(hào);VDD和VEE調(diào)用CAPSYM.olb庫(kù)中的電源符號(hào);“接地”符號(hào)調(diào)用SOURCE.olb庫(kù)中名稱為0的符號(hào)。 B.電路分析部分 對(duì)所繪制的差分對(duì)電路進(jìn)行以下基本電路特性分析: (1)直流工作點(diǎn)(Bias Point)及直流傳輸特性(Transfer Function)分析。分析設(shè)置:輸入為V1,輸出為V(out2),觀察并記錄OUT輸出文件中有關(guān)部分內(nèi)容。 操作1:建立分析文件、設(shè)置分析參數(shù):執(zhí)行OrCAD/Capture主菜單中PSpice/New Simula
7、tion Profile,在Name欄鍵入模擬類型組名稱,如DC,單擊Create鍵,彈出模擬設(shè)置對(duì)話框,按圖中所示設(shè)置好分析參數(shù),單擊確定按鈕。 操作2:?jiǎn)?dòng)PSpice仿真程序:執(zhí)行OrCAD/Capture主菜單中PSpice/Run,彈出OrCAD Pspice A/D窗口,執(zhí)行View/Output File子命令,從中找出各節(jié)點(diǎn)的電壓值、總功耗、輸入電阻、輸出電阻、小信號(hào)直流增益等,按實(shí)驗(yàn)報(bào)告的要求將相關(guān)參數(shù)復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告中。 (2)直流特性掃描分析(DC sweep)。參數(shù)設(shè)置說(shuō)明:掃描變量:V1;掃描類型:Linear,0~1V;增量:0.1V;觀察V(OUT2)~V1曲線
8、。 操作1:設(shè)置分析參數(shù):執(zhí)行OrCAD/Capture主菜單中的PSpice/New Simulation Profile子命令,在Name欄鍵入模擬類型組名稱,單擊Create,彈出如下對(duì)話框,按對(duì)話框中設(shè)置,單擊確定按鈕。 操作2:?jiǎn)?dòng)Pspice仿真程序輸出波形:執(zhí)行OrCAD/Capture主菜單中PSpice/Run子命令,若無(wú)錯(cuò)誤,出現(xiàn)Probe窗口,執(zhí)行Trace/Add Trace子命令或相應(yīng)的工具圖標(biāo),彈出波形添加對(duì)話框,在左則的輸出變量列表中選取或在Trace Expression欄中鍵入要輸出量的表達(dá)式,單擊OK,在Probe窗口即出現(xiàn)所要輸出的波形。 操作3:
9、將輸出波形復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告:在Probe窗口主菜單中執(zhí)行Windows/Copy to Clipboard子命令,在彈出的Copy to Clipboard對(duì)話框中,單擊OK,波形圖就輸入到了剪貼板,在Word格式的實(shí)驗(yàn)報(bào)告中粘貼即可。 提示:以上操作是每次電路分析實(shí)驗(yàn)的基本步驟,以下分析和實(shí)驗(yàn)只說(shuō)明分析要求,不再詳述以上步驟。 (3)AC 分析(AC sweep)及噪聲分析。參數(shù)設(shè)置見(jiàn)下圖,觀察并記錄V(OUT2)與頻率的曲線,輸出噪聲(V(ONOISE))和輸入噪聲(V(INOISE))分別與頻率的關(guān)系曲線(用2個(gè)Y坐標(biāo)顯示在同一個(gè)圖上),并記錄OUT輸出文件中的噪聲分析結(jié)果( 要求記錄
10、Freq=1KHz的數(shù)據(jù))。 提示:有關(guān)坐標(biāo)的添加、刪除、設(shè)置等操作,在Probe窗口主菜單Plot中進(jìn)行。 (4)瞬態(tài)(TRAN)及傅里葉分析:將V1換成用于瞬態(tài)分析的激勵(lì)信號(hào)VSIN(在Source庫(kù)中),設(shè)置成等幅正弦波(Voff=0V,Vampl=0.1V,f=5MegHz),分析參數(shù)設(shè)置見(jiàn)下圖,觀察記錄V(OUT2)、V(V1:+)波形(用2個(gè)坐標(biāo)表示);在Probe中用FFT按鈕對(duì)V(OUT2)進(jìn)行傅里葉分析,標(biāo)出其直流分量、基波和三次諧波分量值,記錄所得波形;打開OUT輸出文件,觀察傅里葉分析結(jié)果的數(shù)據(jù)。 Output File Options設(shè)置對(duì)話框 2.模擬二極
11、管的V-I 特性曲線,以及溫度為0℃、27℃、50℃、80℃時(shí)的正向特性曲線,二極管的伏安特性的測(cè)試電路及設(shè)置見(jiàn)教材P77圖3.10。 3. 分析和模擬教材P80圖3.19所示的滯回比較器的電壓傳輸特性。 三、實(shí)驗(yàn)報(bào)告要求 1.給出所繪制的差分對(duì)放大電路圖。 2.給出差分對(duì)放大電路各節(jié)點(diǎn)的電壓值、總功耗、小信號(hào)直流增益(V(OUT2)/V_V1)、輸入電阻值和輸出電阻值。 3.給出V(OUT2)~V_V1曲線,X軸設(shè)為0~300mv,Y軸設(shè)為5~12.5V。 4. 給出AC/Noise分析得到的V(OUT2)和頻率的曲線,以及輸入噪聲和頻率、輸出噪聲和頻率的曲線(用2個(gè)Y
12、坐標(biāo)在同一波形圖上表示),并給出OUT輸出文件中Freq=1KHz時(shí)的噪聲分析結(jié)果數(shù)據(jù)。 5.給出瞬態(tài)及傅里葉分析的相關(guān)曲線:V(OUT2)、V(V1:+)(在同一張圖上,用2個(gè)坐標(biāo)表示);給出在Probe窗口下對(duì)V(OUT2)的傅里葉分析后的曲線,要求標(biāo)出其直流分量、基波和三次諧波分量值;給出OUT輸出文件中傅里葉分析結(jié)果的數(shù)據(jù)。 6.給出模擬用的電路圖;二極管的V-I 特性曲線;溫度為0℃、27℃、50℃、80℃時(shí)的正向特性曲線。 7. 給出滯回比較器的電路圖及電壓傳輸特性曲線。 實(shí)驗(yàn)二 參數(shù)掃描分析和統(tǒng)計(jì)分析實(shí)驗(yàn) 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 熟悉并初步學(xué)會(huì)用PSpice軟件進(jìn)行掃描分
13、析和統(tǒng)計(jì)分析的方法。 二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 1.分析實(shí)驗(yàn)一所繪制的差分對(duì)電路在-40℃、-20℃、0℃、25℃、50℃、75℃和100℃的輸出V(OUT2)頻率特性(按實(shí)驗(yàn)一的AC Sweep分析設(shè)置參數(shù),不作噪聲分析)。觀察和分析溫度對(duì)V(OUT2)幅度的影響,按試驗(yàn)報(bào)告要求記錄相關(guān)的曲線。 操作步驟: (1)設(shè)置基本特性分析參數(shù):對(duì)所繪制的差分對(duì)電路設(shè)置交流小信號(hào)特性分析參數(shù),如下圖所示。 (2)設(shè)置溫度分析參數(shù):在上圖Options參數(shù)設(shè)置框中,選擇Temperature(Sweep),相應(yīng)的溫度分析參數(shù)設(shè)置如下圖。 (3) 啟動(dòng)Pspice仿真程序,從下圖所示批次選擇對(duì)
14、話框中選取需要的溫度批次,再單擊OK即可將輸出曲線顯示在Probe窗口中,將輸出曲線復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告中,并簡(jiǎn)單說(shuō)明。 2.對(duì)差分對(duì)電路進(jìn)行參數(shù)掃描分析,觀察并記錄有關(guān)曲線。 操作步驟: (1)修改電阻RC1和RC2的阻值為“變化的參數(shù)”,具體做法是: ① 將電阻值10K改為{Rval}; ② 從圖形符號(hào)庫(kù)SPECIAL庫(kù)中調(diào)出PARAM符號(hào)放在電路圖的空處; ③ 雙擊PARAM符號(hào)出現(xiàn)以下屬性參數(shù)對(duì)話框: 按NEW……按鈕,按下左圖所示設(shè)置新增的Rval參數(shù),單擊OK即完成設(shè)置如下右圖所示。選中Rval屬性,單擊Display按鈕,設(shè)置其顯示屬性,單擊OK確認(rèn)后,關(guān)閉屬性參數(shù)對(duì)
15、話框; (2)按實(shí)驗(yàn)一的AC Sweep分析設(shè)置參數(shù)后,選中Options參數(shù)設(shè)置框中的Parametric Sweep,按下圖所示進(jìn)行參數(shù)掃描分析的設(shè)置; (3)保存一次后,啟動(dòng)Pspice程序進(jìn)行模擬,進(jìn)入Probe窗口后,在批次選擇對(duì)話框中選取需要輸出的曲線,單擊OK。 (4)對(duì)輸出曲線進(jìn)行必要的標(biāo)注后,復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告中。 (5)在Probe窗口,在主菜單中用Trace/Performance Analysis或按下 按鈕進(jìn)行性能分析,利用Trace/Add Trace或按下 按鈕,對(duì)輸出的7條V(OUT2)曲線選用MAX( )函數(shù)得到差分對(duì)電路的最大增益隨RC1、R
16、C2阻值的變化曲線,將其復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告中。 3.完成差分對(duì)電路的MC分析,重復(fù)分析次數(shù):10。觀察、記錄輸入曲線及MC分析的比較統(tǒng)計(jì)結(jié)果。 操作步驟: (1)修改實(shí)驗(yàn)一所畫差分對(duì)電路中的電阻RC1和RC2為阻值可發(fā)生隨機(jī)變化的器件,并設(shè)置電阻的模型參數(shù)變化,具體步驟是: ① 用Breakout元件庫(kù)中的Rbreak元件取代原電阻,雙擊該電阻符號(hào),在屬性參數(shù)對(duì)話框中將Value項(xiàng)改為10K,編號(hào)仍然用RC1、RC2; ② 選中剛替換的電阻符號(hào)后,執(zhí)行Capture中的Edit/Pspice Model,將模型參數(shù)編輯框中的.model Rbreak RES R=1修改為.model R
17、C RES (R=1 DEV=5%),保存并關(guān)閉參數(shù)編輯窗口。 (2) 按實(shí)驗(yàn)一的AC Sweep分析設(shè)置參數(shù)后,選中Options參數(shù)設(shè)置框中的Monte Carlo/Worst Case按下圖所示進(jìn)行MC分析的設(shè)置; 按下More Settings,添加List model parameter values in the output file選項(xiàng),如下圖; (3)保存后,啟動(dòng)Pspice程序進(jìn)行仿真,進(jìn)入Probe窗口后,在批次選擇對(duì)話框中選取需要輸出的曲線; (4)適當(dāng)設(shè)置X、Y坐標(biāo)后將輸出曲線復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告中; (5)打開
18、OUT輸出文件中,觀察并記錄MC分析結(jié)果的數(shù)據(jù),并找出與標(biāo)稱值偏差最大的RC1、RC2值,記錄到實(shí)驗(yàn)報(bào)告中。 4.完成差分對(duì)電路的WC分析,觀察并記錄OUT文件中的4次分析結(jié)果和分析結(jié)論。 操作步驟: (1)和MC分析一樣,將差分對(duì)電路中的電阻RC1、RC2符號(hào)換為Rbreak,再將其模型參數(shù)R=1設(shè)置為R=1 DEV=5%。具體操作步驟如前3-(1)所述 ; (2)按實(shí)驗(yàn)一的AC Sweep分析設(shè)置參數(shù)后,選中Options參數(shù)設(shè)置框中的Monte Carlo/Worst Case按上圖所示進(jìn)行WC分析的設(shè)置;按下More Settings,添加List model paramete
19、r values in the output file選項(xiàng),并在Find對(duì)話框中選擇the maximum value(MAX),如下圖所示; (3)保存后,啟動(dòng)Pspice程序進(jìn)行仿真,進(jìn)入Probe窗口后,在批次選擇對(duì)話框中選取需要輸出的曲線; (4)適當(dāng)設(shè)置X、Y坐標(biāo)后將輸出曲線復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告中,并進(jìn)行簡(jiǎn)單說(shuō)明; (5)打開OUT輸出文件中,觀察并將WC分析結(jié)果的數(shù)據(jù)記錄到實(shí)驗(yàn)報(bào)告中。 三、實(shí)驗(yàn)報(bào)告要求 1.給出溫度分析的電路和分析結(jié)果,并簡(jiǎn)單說(shuō)明溫度對(duì)電路特性的影響; 2.給出參數(shù)掃描分析的電路和分析結(jié)果,并簡(jiǎn)單說(shuō)明參數(shù)的變化對(duì)電路特性的影響;給出差分對(duì)電路的最
20、大增益隨RC1、RC2阻值的變化曲線。 3.給出差分對(duì)電路的MC分析結(jié)果輸出曲線,注意適當(dāng)設(shè)置X、Y坐標(biāo)范圍,使曲線顯示清楚;在OUT文件中截取MC分析結(jié)果并給出RC1、RC2標(biāo)稱值和與之偏差最大的值。 4.給出差分對(duì)電路的WC分析結(jié)果輸出曲線,注意適當(dāng)設(shè)置X、Y坐標(biāo)范圍,使曲線顯示清楚;在OUT文件中截取WC分析結(jié)果數(shù)據(jù)。 實(shí)驗(yàn)三 電路性能分析實(shí)驗(yàn) 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 熟悉并初步學(xué)會(huì)用OrCAD/Pspice軟件作電路性能分析的方法。 二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及要求 1.分析下圖所示二極管限幅電路的最大增益和帶寬與電阻R1的關(guān)系,觀察VDB(C1:1),VDB(out)、VP(
21、out)的AC分析曲線,VDB(out)的參數(shù)掃描分析曲線。Bandwidth(VDB(out)和Max(VDB(out))與Rval的關(guān)系曲線。 實(shí)驗(yàn)步驟: (1)繪制電路圖:電阻、電容在Analog.olb中;二極管在Diode.olb中; Param在Special.olb中。注意按照實(shí)驗(yàn)二的2-(1)操作步驟設(shè)置R1的參數(shù)值。 (2)按下圖所示設(shè)置AC分析參數(shù): (3)保存后,啟動(dòng)Pspice程序進(jìn)行仿真,進(jìn)入Probe窗口后添加VDB(C1:1),VDB(out)、VP(out)(增加一Y坐標(biāo)顯示)的AC分析曲線,并將其復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告。 (4)在AC分析的基礎(chǔ)上
22、,按下圖設(shè)置參數(shù)掃描分析的參數(shù): (5)啟動(dòng)Pspice程序進(jìn)行仿真,從批次選擇對(duì)話框中選取需要輸出的曲線,在Probe窗口添加VDB(out)曲線,將顯示曲線復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告。 (6)完成最大增益和通頻帶帶寬的性能分析: a.在Probe窗口主菜單中,利用Window/New Window新開一顯示窗口,然后用Trace/Performance Analysis或按下 按鈕進(jìn)行性能分析,利用Trace/Add Trace或按下 在按鈕,曲線添加窗口在Goal Functions中選用Bandwindth函數(shù),在Trace Expression對(duì)話框中輸入函數(shù)的自
23、變量VDB(out),和3,單擊OK得到VDB(out)的3db帶寬曲線; b.在Probe窗口主菜單中,利用Plot/Add Y Axis添加一坐標(biāo)軸后,再添加曲線,此時(shí)選用MAX()函數(shù)得到最大增益Vdb(out)隨Rval阻值的變化曲線。 c.如下圖示,利用Plot/Axis Setting將X軸坐標(biāo)設(shè)置為L(zhǎng)og,最后將得到的兩條曲線復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告中。 2.對(duì)下圖所示的RLC電路,分析過(guò)沖和上升時(shí)間與R1的關(guān)系,觀察I(L1)曲線,Overshoot(I(L1))和GenRise(I(L1))與R的關(guān)系曲線。 Iin的參數(shù)設(shè)置:
24、 AC=1A T1=0s I1=0a T2=10ms I2=0A T3=10.1ms I3=1A 實(shí)驗(yàn)步驟: (1)繪制RLC電路圖:Iin在Source庫(kù)中選IPWL符號(hào),R1在Breakout中選Rbreak符號(hào),按照實(shí)驗(yàn)二的2-(1)操作步驟設(shè)置R1的參數(shù)值R=0.5。 (2) 按下圖所示設(shè)置瞬態(tài)分析參數(shù)和參數(shù)掃描分析參數(shù)。 (3)保存后,啟動(dòng)Pspice程序進(jìn)行仿真,在批次選擇對(duì)話框中選中所有曲線輸出,添加輸出曲線I(L1)@9,將其復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告。 (4)新增一顯示窗口,利用Pspice的P
25、erformance Analysis功能,輸出Overshoot(I(L1))和GenRise(I(L1))與R的關(guān)系曲線(在同一張圖上,用2個(gè)坐標(biāo)表示),將其復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告。 3.對(duì)下圖的chebyshev濾波器作性能分析,觀察400套濾波器的1db帶寬和中心頻率分布直方圖(為減小數(shù)據(jù)量,請(qǐng)加“VDB”Marker,并在Pspice/Edit Simulation Settings/Data collection中,選中“at Markers Only”)。 實(shí)驗(yàn)步驟: (1)繪制chebyshev濾波器電路圖:電源在Source庫(kù)中選,LT1013/LT在Lin_tech庫(kù),所有的
26、電阻和電容在Breakout庫(kù)中選。 (2)按照實(shí)驗(yàn)二3-(1)操作步驟設(shè)置電阻、電容的模型參數(shù)變化:將Rbreak的模型參數(shù)改為:.model RMOD RES (R=1 DEV=1%),將Cbreak的模型參數(shù)改為:.model CMOD CAP (C=1 DEV=5%),所有的Rbreak標(biāo)號(hào)改為RMOD,所有的Cbreak標(biāo)號(hào)改為CMOD。 (3)按下圖所示設(shè)置AC分析參數(shù)和MC分析參數(shù)。為減少數(shù)據(jù)量,對(duì)上圖的 Data collection選項(xiàng)進(jìn)行設(shè)置,選中“at Markers Only”。
27、 (4)在AC分析參數(shù)和MC分析參數(shù)設(shè)置完成后,在OUT輸出端加VDB探針(操作見(jiàn)下圖示)。 (5)啟動(dòng)Pspice程序進(jìn)行仿真,在批次選擇對(duì)話框中選中所有曲線輸出,進(jìn)入Probe窗口后新開一窗口,用 進(jìn)行Performance Analysis分析,再用 添加性能分析函數(shù)Bandwidth(VDB(OUT),1),即得到1db帶寬的分布直方圖,將直方圖復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告;再用 添加性能分析函數(shù)CenterFreq(VDB(OUT),1),得到1db帶寬中心頻率分布的直方圖,將直方圖復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告。 三、實(shí)驗(yàn)報(bào)告要求 1.給出二極管限幅電路,VDB(C1:1)、VDB(out
28、)的AC分析曲線,VDB(out) 的參數(shù)掃描分析曲線,Bandwidth(VDB(out),3)和Max(VDB(out))與Rval的關(guān)系曲線。 2.給出RLC電路,I(L1)~Time曲線,GenRise(I(L1))和Overshoot(I(L1))與R的關(guān)系曲線(在一張圖上,用2坐標(biāo)表示)。 3.給出chebyshev濾波器電路,給出400套濾波器的1db帶寬和中心頻率分布直方圖。 實(shí)驗(yàn)四 邏輯電路、數(shù)/?;旌想娐贩治鰧?shí)驗(yàn) 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 學(xué)習(xí)用OrCAD/Pspice軟件對(duì)邏輯電路、數(shù)/?;旌想娐愤M(jìn)行分析的方法。 二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及要求 A,B 0ns 0
29、0 50ns 10 100ns 01 150ns 11 200ns 00 250ns 10 300ns 01 350ns 11 400ns 00 1.分析下左圖半加器電路的邏輯關(guān)系,A、B信號(hào)采用FILEGSTIM1信號(hào)源數(shù)據(jù)文件。觀察A、B、SUM、CARRY等波形及其之間的邏輯關(guān)系。 實(shí)驗(yàn)步驟: (1)繪制半加器電路圖:信號(hào)源DSTM在Source庫(kù)中選FILEGSTIM1,7400和7404在7400庫(kù),A 、B信號(hào)的描述文件可在純文本編輯器(如記事本)中生成,信號(hào)描述見(jiàn)上右圖示。該描述文件名必須與電路圖相同,保存在電路圖所在的文件夾下。 (
30、2)按下圖示設(shè)置瞬態(tài)分析參數(shù) (3)啟動(dòng)Pspice程序進(jìn)行仿真,進(jìn)入Probe窗口后添加A、B、CARRY和SUM波形,將輸出波形復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告,并分析是否滿足半加器要求的邏輯關(guān)系。 2.對(duì)下圖所示的4位計(jì)數(shù)器電路進(jìn)行邏輯模擬:要求用StmEd設(shè)置驅(qū)動(dòng)波形,其中CLK為脈寬=0.5us,周期=1us的時(shí)鐘信號(hào),CLR是在2~5us為低電平,其余為高電平的清零信號(hào)。觀察輸入/輸出波形(輸出波形除用二進(jìn)制形式顯示外,另用16進(jìn)制、10進(jìn)制和8進(jìn)制總線形式顯示)。 操作步驟: (1)繪制4位計(jì)數(shù)器電路圖:信號(hào)源CLK和CLR在Sourcstm庫(kù)中選DigStim1,74107在74
31、00庫(kù)中,Hi在Place Power/Source中。 (2)編輯CLK信號(hào):選中CLK后,用菜單Edit/PSpice Stimulus啟動(dòng)StmEd窗口,按下圖所示設(shè)置CLK信號(hào),然后用Stimulus/New添加CLR信號(hào),根據(jù)提示進(jìn)行設(shè)置后再按要求修改好CLR信號(hào)(見(jiàn)下圖),保存并退出StmEd窗口。 (3)按下圖示設(shè)置瞬態(tài)分析參數(shù) (4)保存后啟動(dòng)Pspice程序進(jìn)行仿真,進(jìn)入Probe窗口后添加CLK:OUT CLR:OUT Q3 Q2 Q1 Q0波形,并用{Q[3:0]}以總線方式顯示Q3 Q2 Q1 Q0的輸出;要用16進(jìn)制、10進(jìn)制和8進(jìn)制總線形式顯示輸出波形,
32、則可在Trace Expression中輸入{Q[3:0]};QBusHex;H {Q[3:0]};QBusDec;D {Q[3:0]};QBusOct;O即可。將輸出波形復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告。 2.對(duì)下圖所示振蕩器電路進(jìn)行混合模擬分析,觀察RESET、OUT、V(C1:1)、V(R1:1)等波形。 操作步驟: (1)繪制振蕩器電路圖:RESET在SOURCSTM庫(kù)中選DigStim1,電阻、電容在ANALOG庫(kù)中,其他元器件在7400庫(kù)中。 (2)按上述2-(2)操作步驟編輯RESET信號(hào):0s為高電平,100ns以后為低電平,如下圖示。 (3)按下圖示設(shè)置瞬態(tài)分析參數(shù)
33、 (4)保存后啟動(dòng)Pspice程序進(jìn)行仿真,將需要的輸出波形復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告,并進(jìn)行簡(jiǎn)單分析。(注意:V(C1:1)和V(R1:1)波形用兩坐標(biāo)軸顯示,前者坐標(biāo)范圍設(shè)置為-5V~+5V,后者設(shè)置為0V~10V,將兩波形分開顯示) 2.對(duì)本實(shí)驗(yàn)1的半加器電路作最壞情況模擬,觀察出現(xiàn)的4條警告信息和有關(guān)的邏輯錯(cuò)誤波形,以及最壞情況下A、B、SUM、CARRY等波形。 操作步驟: (1)打開本實(shí)驗(yàn)1繪制的半加器電路圖,調(diào)用PSpice/Edit Simulation Profile,在原分析參數(shù)設(shè)置基礎(chǔ)上,設(shè)置Option選項(xiàng)如下圖所示。 (2)保存后,啟動(dòng)Pspice程序進(jìn)行仿真,
34、出現(xiàn)如下左圖所示對(duì)話框,確定后,在下右圖所示對(duì)話框中分別選中各輸出項(xiàng),用Plot畫出四次出現(xiàn)的邏輯錯(cuò)誤的波形; 在Probe窗口添加一新窗口,輸出最壞情況下A、B、CARRY和SUM 的波形。將這些波形復(fù)制到實(shí)驗(yàn)報(bào)告中。 三、實(shí)驗(yàn)報(bào)告要求 1.打印半加器電路及邏輯模擬得到的輸入、輸出波形。 2.打印4位計(jì)數(shù)器電路及按要求顯示的有關(guān)波形。 3.打印振蕩器電路及混合模擬輸出的有關(guān)波形。 4.打印半加器電路的WC模擬出現(xiàn)的警告信息,和相關(guān)的出錯(cuò)波形,以及最壞情況下A、B、CARRY、SUM的波形。 實(shí)驗(yàn)五 綜合應(yīng)用實(shí)驗(yàn) 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 鞏固模擬電路的各種分析方
35、法的電路圖修改及分析參數(shù)的設(shè)置。 二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及要求 (1)畫出如下電路圖。 (2)AC分析和噪聲分析 AC分析:參數(shù)設(shè)置,起始頻率1Hz,終止頻率10kHz,頻點(diǎn)個(gè)數(shù)為100。給出Vdb(OUT)和VP(OUT)的波形。 噪聲分析:參數(shù)設(shè)置,Output:V(OUT),I/V:V3,Interval:5。給出輸出/輸入噪聲(V(ONOISE)/V(INOISE))~頻率曲線(用2個(gè)Y坐標(biāo)顯示,輸入噪聲的Y坐標(biāo)采用對(duì)數(shù)表示)。 (3)瞬態(tài)分析和傅立葉分析 瞬態(tài)分析:將V3 換成VSIN,設(shè)置成等幅正弦波(Voff=0V,Vampl=2V,f=1KHz)。分析參數(shù)設(shè)置:運(yùn)行時(shí)間為5
36、ms,從為10us開始保存數(shù)據(jù),最大步長(zhǎng)取1us。給出V(V3)、V(OUT1)和V(OUT)的波形。 傅立葉分析:對(duì)V(OUT)進(jìn)行傅立葉分析,中心頻率為1kHz,9次諧波,輸出為V(OUT)。給出傅立葉分析的結(jié)果(Y坐標(biāo)用對(duì)數(shù)表示),標(biāo)出直流分量、基波及一次諧波分量的值。 (4)溫度分析 溫度設(shè)置為-15℃、27℃、180℃。給出溫度分析的頻率響應(yīng)。 (5)參數(shù)掃描及性能分析 將R1設(shè)置成全局參數(shù)R,掃描類型:Linear,變化范圍:500~1500Ω,步長(zhǎng)為100Ω。給出R1為500Ω,1000Ω,1500Ω的V(OUT)波形,Max(V(OUT))~R和Max(VDB
37、(OUT))~R曲線(用兩個(gè)Y坐標(biāo))。 (6)MC分析 R1、R2采用同一模型參數(shù):.model Rmode RES (R=1 LOT=10% DEV=5%),分析設(shè)置:①AC掃描分析:1Hz~10kHz,100 Points/Decade;②MC分析:輸出變量V(OUT),對(duì)組裝20套電路進(jìn)行MC分析,參數(shù)變化規(guī)律:高斯分布,隨機(jī)種子數(shù):17533(內(nèi)定),Save data:All,分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)方式:the greatest difference from the nominal run(YMAX),③在Data Collection 中選:At Markers Onl
38、y。給出前5次V(OUT)~f的曲線;-3db低通帶寬LPBW(V(OUT),3)的統(tǒng)計(jì)直方圖。 (7)WC分析 把圖中C1~C5、L1、L2元件改用Breakout庫(kù)中對(duì)應(yīng)元件,C1~C5采用同一模型參數(shù):.model Cmode CAP (C=1 DEV=5%),L1、L2采用模型:.model Lmode IND (L=1 DEV=10%),分析設(shè)置:輸出V(OUT),Vary device that( )tolerance項(xiàng)選擇only DEV,Worst Case Direction項(xiàng)選擇High。給出標(biāo)稱值和最壞情況的Vdb(OUT)和Vp(OUT)。
39、 實(shí)驗(yàn)六 電路印制板設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn) 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 學(xué)習(xí)用OrCAD軟件的Layout Plus模塊進(jìn)行電路印制板設(shè)計(jì)(PCB)的方法。 二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及要求 繪制單片機(jī)串口電路,用自動(dòng)布局和自動(dòng)布線的方法繪制該電路的印制板。 操作步驟: (1)新建設(shè)計(jì)項(xiàng)目。在Capture窗口中執(zhí)行File/New/Project子命令,在New Project對(duì)話框中設(shè)置新建項(xiàng)目名稱,選中“PC Board Wizard”選項(xiàng),單擊“OK”按鈕。在隨后出現(xiàn)的對(duì)話框中單擊“下一步”按鈕,配置元器件符號(hào)庫(kù),然后單擊“確定”按鈕。 (2)在電路圖編輯模塊中繪制電路圖。各
40、元器件符號(hào)所在的庫(kù)如下表所示。 元器件符號(hào)名稱 元器件符號(hào)所在的庫(kù)文件名稱 QZS10MEG …\ORCAD\CAPTURE\LIBRARY\PSPICE\XTAL.OLB 4 HEADER、8 HEADER …\ORCAD\CAPTURE\LIBRARY\CONNECTOR.OLB C、C_elect、R …\ORCAD\CAPTURE\LIBRARY\PSPICE\ANALOG.OLB SW PUSHBUTTON …\ORCAD\CAPTURE\LIBRARY\DISCRETE.OLB 8051 …\ORCAD\CAPTURE\LIBRARY\MICROCONTRO
41、LLER.OLB MAX232 …\ORCAD\CAPTURE\LIBRARY\LINEDRIVERRECEIVER.OLB SUB-D 9 …\ORCAD\CAPTURE\LIBRARY\IEC\DEVICE.OLB 注意:在Capture中,各集成電路的電源管腳是默認(rèn)隱藏的,一定要保證集成電路的電源管腳名稱與放置的電源符號(hào)名稱相同,否則將無(wú)法得到正確的電連接網(wǎng)絡(luò)表。 (3)給每個(gè)元器件配置封裝外形,各元器件的封裝如下表所示,同時(shí)每個(gè)元器件、引線和節(jié)點(diǎn)也必須具有Layout支持的屬性參數(shù)(見(jiàn)2.7.2)。 元器件序號(hào) 原始元器件名稱 所在封裝庫(kù) 元器件屬性PCB Foot
42、print R1 R TM_AXIAL AX/.400X.100/.034 C2、C7 C TM_RAD RAD/.200X.100/LS.100/.031 C1、C3、C4、 C5、C6、C8 C_elect TM_CYLND CYL/D.300/LS.200/.034 JP1、JP4 4 HEADER SIP SIP/TM/L.400/4 JP2、JP3 8 HEADER SIP SIP/TM/L.800/8 X1 QZS10MEG TM_RAD RAD/.200X.100/LS.100/.031 U1 MAX232 DIP100T
43、 DIP.100/16/W.300/L.800 U2 8051 DIP100T DIP.100/40/W.600/L2.050 VB1 SUB-D 9 DSUBT_HD DSUB/VS/TM/9 SW1 SW PUSHBUTTON TM_RAD RAD/.400X.200/LS.300/.034 (4)調(diào)用后處理工具對(duì)電路進(jìn)行元器件編號(hào)更新、設(shè)計(jì)規(guī)則檢驗(yàn)、元器件報(bào)表輸出。確保電路圖中每個(gè)元器件均有不重復(fù)的元器件編號(hào),以及不存在違背設(shè)計(jì)規(guī)則的情況。 (5)創(chuàng)建電連接網(wǎng)絡(luò)表文件。在檢查電路圖無(wú)誤后,在Capture項(xiàng)目管理器窗口中,選中該電路圖,再執(zhí)行Tools/C
44、reateNetlist子命令,對(duì)Create Netlist對(duì)話框中的Layout標(biāo)簽頁(yè)進(jìn)行設(shè)置,單擊“確定”按鈕,即可得到Layout Plus所需要的電連接網(wǎng)絡(luò)表文件。 (6)選擇PCB模板。啟動(dòng)Layout Plus軟件,在Layout Plus管理窗口中執(zhí)行File/New子命令,出現(xiàn)Load Template File設(shè)置框,在\OrCAD\Layout_Plus\DATA目錄下選擇模板文件DEFAULT.tch。 (7)調(diào)入電連接網(wǎng)表文件。指定模板文件后,單擊圖中的“打開”按鈕,隨即彈出網(wǎng)表文件調(diào)入對(duì)話框,并指定上一步生成的MYDESIGN.MNL電連接網(wǎng)表文件名。 在文件
45、名設(shè)置對(duì)話框指定PCB設(shè)計(jì)文件名。Layout Plus默認(rèn)PCB設(shè)計(jì)文件名與相應(yīng)的電連接網(wǎng)絡(luò)表文件名相同,擴(kuò)展名為“.max”,并且存放在同一個(gè)文件夾中。 保存PCB設(shè)計(jì)文件后,程序開始載入電連接網(wǎng)絡(luò)表文件和元器件,并生成有關(guān)的報(bào)告文件(Report file)和錯(cuò)誤信息記錄文件(Error file),同時(shí)顯示進(jìn)程信息。 (8)錯(cuò)誤信息的處理。如果電連接網(wǎng)絡(luò)表文件存在問(wèn)題,屏幕上將出現(xiàn)錯(cuò)誤信息提示,此時(shí)無(wú)法正確導(dǎo)入電連接網(wǎng)表文件,需修改電路設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤。 (9)確定板框。開始PCB版圖設(shè)計(jì)時(shí),首先需要確定板框尺寸,屏幕上的虛線框表示由模板文件定義的板框,要求所有的元器件封裝都在板框范
46、圍之內(nèi)。 1)板框定義在Global Layer層上,首先將該層設(shè)置為工作層。在工具欄下方的狀態(tài)欄中,點(diǎn)擊右邊的下拉按鈕,從下拉列表中選取Global Layer項(xiàng)即可。 2)執(zhí)行Tool/Obstacle/Select Tool子命令,進(jìn)入放置板框狀態(tài)。注意板框是障礙物的一種。 3)將光標(biāo)移至所要繪制的板框的一個(gè)起點(diǎn)位置,單擊鼠標(biāo)左鍵,再移動(dòng)鼠標(biāo)到合適位置單擊鼠標(biāo)左鍵,依次確定板框的各個(gè)頂點(diǎn)。在確定了板框的最后一個(gè)頂點(diǎn)后,單擊鼠標(biāo)右鍵,在彈出的快捷菜單中執(zhí)行End Command命令或者直接按ESC鍵,結(jié)束板框的繪制。 (10)元器件布局。采用自動(dòng)布局。執(zhí)行Auto/Place/Bo
47、ard子命令,Layout Plus即自動(dòng)進(jìn)行元器件布局。 (11)PCB布線。采用自動(dòng)布線。 執(zhí)行Auto/Autoroute/Board子命令,Layout Plus開始自動(dòng)布線,布線結(jié)束后屏幕上會(huì)出現(xiàn)一個(gè)確認(rèn)對(duì)話框,表示已完成了自動(dòng)布線工作。自動(dòng)布線的布通率不能達(dá)到100%時(shí),可用文本編輯工具打開相應(yīng)的報(bào)表文件查閱尚未布通的連線。對(duì)未布通的連線,可采取調(diào)整布局再進(jìn)行布線,或者采用手工布線,直到100%布通為止。 (12)生成報(bào)表文件 完成PCB設(shè)計(jì)后,執(zhí)行Auto/Create Report子命令可以生成20種統(tǒng)計(jì)報(bào)表文件。其中也包括未布通的報(bào)告文件Unroute Report。
48、 (13)完成設(shè)計(jì)后,將PCB結(jié)果存入指定的文件中。 三、實(shí)驗(yàn)報(bào)告要求 1. 給出單片機(jī)串口電路。 2. 給出單片機(jī)串口電路印制板的頂層和底層版圖。 練 習(xí) 題 1、題圖1所示為共射極放大電路: (1)給出該電路圖; (2)進(jìn)行直流工作點(diǎn)分析和靈敏度分析,給出小信號(hào)參數(shù)和靈敏度分析結(jié)果; (3)進(jìn)行交流掃描給出V(out)和輸入電阻Rin=V(Vin)/I(Vin)隨頻率變化的曲線; (4)進(jìn)行噪聲分析,給出V(INOISE) ~頻率曲線和V(ONOISE) ~頻率曲線(在同一波形圖上用兩個(gè)坐標(biāo)表示),并給出OUT輸出文件中Freq=1KHz的噪聲分析結(jié)果數(shù)據(jù); (5
49、)利用交流掃描求輸出電阻Rout:將Vin的AC值設(shè)為0,去掉輸出端負(fù)載電阻RL,在out節(jié)點(diǎn)上另加一個(gè)交流信號(hào)源,其DC=0,AC=1,經(jīng)過(guò)AC掃描后,Rout=V(out)/I(out)。 要求:直流工作點(diǎn)分析設(shè)置:輸入為Vin,輸出為V(out);AC掃描分析頻率以每10倍頻程取10點(diǎn)的方式,從1Hz變化到1GHz。噪聲分析中的Interve取為5。 題圖1 2、如題圖2,對(duì)于一個(gè)反相比例放大電路,需要確定參考電壓VCC的取值,使得輸入輸出電壓直流傳輸特性為:Vo= -5Vi+5。 (1)將VCC的值改為{vi},將其設(shè)置為全局參數(shù)。進(jìn)行參數(shù)掃描,給出掃描時(shí)的V(out)曲線,標(biāo)
50、出V(out)=5v時(shí)的vi的值; (2)按(1)所得到的vi值(以下步驟vi都為該值),給出電路圖; (3)對(duì)該電路進(jìn)行直流掃描,Sweep variable為Voltage source:vin1,Sweep type為L(zhǎng)inear,從0v到3v每0.2v掃描一次。給出輸入輸出電壓直流傳輸特性曲線; (4)對(duì)該電路進(jìn)行AC掃描,頻率以每10倍頻程取10點(diǎn)的方式,從1Hz變化到1GHz。給出V(out)波形,標(biāo)出其高頻截止頻率; 題圖2 (5)將R3的值設(shè)為{R},對(duì)其進(jìn)行全局掃描,掃描類型為從4K到12K每2K掃描一次,給出該電路的增益隨R3阻值變化的曲線圖,簡(jiǎn)要說(shuō)明R3的變化對(duì)
51、電路增益的影響。 3、對(duì)如題圖3所示的一階低通濾波電路: (1)給出電路圖,對(duì)該電路進(jìn)行AC掃描,頻率以每10倍頻程取10點(diǎn)的方式,從1Hz變化到1GHz ,分別給出Vout以及VDB(out)的曲線; 題圖3 (2)對(duì)R2的值設(shè)為{Rin},對(duì)其進(jìn)行全局掃描,掃描類型為從1K到20K每1K掃描一次,分別給出V(out)的參數(shù)掃描分析曲線,LPBW(V(out),3)與Max(VDB(out))與R2的關(guān)系曲線; (3)將電路中的R1、R2和R3改為Rbreak符號(hào),Value改為10K。模型參數(shù)分別改為:“.model Rmod RES (R=1 DEV=5%)”,將C1改為Cbr
52、eak,Value改為0.1u,模型參數(shù)改為:“.model Cmod CAP (C=1 DEV=5%)”。按(1)的AC分析設(shè)置參數(shù)后,進(jìn)行MC分析,注意將Stimulation Settings窗口中的Data Collection改為“at Markers Only”,性能分析函數(shù)為 LPBW(VDB(out),3),給出400套濾波器的直方圖。 4、對(duì)如題圖4所示的數(shù)值比較器,其中輸入端A和B為DigStim1信號(hào)源,將其設(shè)置為時(shí)鐘信號(hào),周期分別為300ns和100ns,脈寬為150ns和50ns,輸入輸出關(guān)系F1:A<B,F(xiàn)2:A=B和F3:A>B。 (1)給出電路圖; 題圖
53、4 (2)進(jìn)行瞬態(tài)分析,模擬時(shí)間為1000ns,在同一窗口中給出A、B、F1、F2和F3的波形。 5、(1)對(duì)如題圖5所示的石英晶體振蕩器電路,a:給出電路圖;b:對(duì)該電路進(jìn)行數(shù)模混合模擬,模擬時(shí)間為500ns,給出輸出Vo的波形,并根據(jù)該波形求出電壓Vo的最大、最小脈沖寬度。 題圖5 (2)對(duì)題圖4的電路作WC模擬,給出模擬中出錯(cuò)信息提示窗口,出錯(cuò)信息一覽表和最壞情況下A、B、F1、F2和F3的波形。 附錄一 實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式要求 班級(jí)專業(yè): 姓名: 實(shí)驗(yàn)序號(hào)及實(shí)驗(yàn)名稱 實(shí)驗(yàn)日期
54、 給出實(shí)驗(yàn)電路圖,按實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書對(duì)實(shí)驗(yàn)報(bào)告的要求給出分析輸出的波形圖,并對(duì)輸出波形作簡(jiǎn)單的說(shuō)明。 例: 2001級(jí)信息工程2班 X X X 實(shí)驗(yàn)一 電路圖繪制及基本電路特性分析實(shí)驗(yàn)報(bào)告 2004-XX-XX 1、 差分對(duì)電路圖 圖略 2、 Bias Point 分析結(jié)果: OUT輸出文件中的有關(guān)內(nèi)容 3、 DC Sweep分析結(jié)果: V(out2)輸出曲線圖略,并對(duì)圖及分析結(jié)果作簡(jiǎn)單說(shuō)明。 4、 AC Sweep/Noise 分析…… …………………… 附錄二 實(shí)驗(yàn)五參考波形 (
55、1)AC分析的Vdb(OUT)和VP(OUT)的波形。 噪聲分析: (2)瞬態(tài)分析 傅立葉分析: (3)溫度分析 (4)參數(shù)掃描分析 附錄三 常用庫(kù)文件名及元器件 庫(kù)文件名 元 器 件 7400 7400 (四2輸入與非門)、7402(四2輸入或非門)、 7404(六反相器)、 7408(四2輸入與門)、 7413(雙3輸入與非門)、 7414(六輸入反相器)、 7420(雙4輸入與非門)、7425(雙4輸入或非門)、 7430(8輸入與非門)、 7432(2輸入或非門)、 7442(4線—10線譯碼
56、器)、7445(BCD十進(jìn)制譯碼器/驅(qū)動(dòng)器)、7448(BCD七顯示譯碼器/驅(qū)動(dòng)器)、7470(有預(yù)置清除端的與門輸入上升沿觸發(fā)JK觸發(fā)器)、7472(有預(yù)置清除端的與門輸入主從JK觸發(fā)器)、7473(具有清除端的雙JK觸發(fā)器)、7474(有預(yù)置清除端的上升沿觸發(fā)D觸發(fā)器)、7486(四2輸入異或門)、7490(四位二進(jìn)制計(jì)數(shù)器)、749l(8位移位寄存器)、7492(l2分頻計(jì)數(shù)器)、7493(四位二進(jìn)制計(jì)數(shù)器)、74104(與門輸入主從JK觸發(fā)器)、74l05(與門輸入主從JK觸發(fā)器)、74107(雙JK觸發(fā)器,有清除端)、74109(雙正沿觸發(fā)主從JK觸發(fā)器有預(yù)置/清除端)、74123(
57、可再觸發(fā)單穩(wěn)觸發(fā)器)、74160(同步4位計(jì)數(shù)器)、74161(同步4位計(jì)數(shù)器)、74164(8位移位寄存器/并入串出)、74190(同步加減計(jì)數(shù)器/有加減控制)、74248(BCD七段譯碼驅(qū)動(dòng)器)、74273(8D觸發(fā)器)、74393(雙4位二進(jìn)制計(jì)數(shù)器) CD4000 CD4000A(雙三輸入或門加反相器)、CD400lA(四2輸入或非門)、CD4002A(雙4輸入或非門)、CD4002A(雙4輸入或非門)、CD4009A(六緩沖/反相器)、CD4010A(6緩沖器)、CD4010B(六緩沖/反相器)、CD40llUB(四2輸入與非門)、CD4013B(雙D觸發(fā)器)、CD4O178(計(jì)
58、數(shù)器/分頻器)、CD4018B(N進(jìn)制計(jì)數(shù)器)、CD4022B(計(jì)數(shù)/分頻器)、CD4023UB(三3輸入與非門)、CD402SUB(三2輸入或非門)、CD4027B(雙JK主從觸發(fā)器)、CD4028B(BCD--七段譯碼器)、CD4029B(可預(yù)置數(shù)加減計(jì)數(shù)器)、CD4042B(四時(shí)鐘D鎖存器)、CD4049UB(六反相緩沖器)、CD4069UB(六反相器)、CD4070B(四異或門)、CD4071B(四2輸入或門)、CD4076B(四位D寄存器)、CD408lB(四2輸入與門)、CD4082B(雙4輸入與門)、CD4095B(門控JK主從觸發(fā)器)、CD4503B(六反相器)、CD40174
59、B(六D觸發(fā)器)、CD40l75B(四D觸發(fā)器) ANALOG C(電容)、C-elect(電解電容)、C-var(可變電容)、E(壓控電壓源)、EPOLY(壓控電壓源)、F(電流控電流源)、FPOLY(電流控電流源)、G(壓控電流源)、GPOLY(壓控電流源)、H(電流控電流源)、HPOLY(電流控電流源)、L(電感)、R (電阻)、R-var(可變電阻)、S(壓控開關(guān))、T (傳輸線)、TLOSSY(傳輸線)、W(電流控開關(guān)) BIPOLAR NPN三極管:40235~40240、40242、DH3724CD、DH3724CN、DH3725CD、DH3725CN、M
60、M401、MM402、MM5262、MM2369、MPS2222、MPS2711、MPS2713、MPS2714、MPS2716、MPS2923~MPS2926、MPS3392 ~MPS3398、MPS3642、 MPS3646、MPS3693、MPS3694、MPS3704 、MPS3707~ MPS37011、MPS37021、MPS3826、MPS3827、MPS3903、MPS3904、Q2N1420、Q2N1566、Q2N1613、Q2N2218、Q2N2220、Q2N2221、Q2N2221A、Q2N2222、Q2N3011、Q2N3013、Q2N3300、Q2N3414、Q2N3
61、508、Q2N3600、Q2N3700、Q2N3827、Q2N3900、Q2N3901、Q2N3903、Q2N3904、Q2N3906、Q2N4013 PNP三極管:DH3467CD、DH3467CN、DH3468CD、DH3468CN、MM3905、MM3906、MM4001、MM4258、MPS2907、MPS3638、MPS3638A、MPS3639、MPS3640、MPS3644、MPS3645、MPS3702、MPS3703、MPS3905、MPS3906、Q2N1132、Q2N2604、Q2N2605、Q2N2696、Q2N3012、Q2N3072、Q2N3209、Q2N3244
62、、Q2N3304、Q2N3451、Q2N3502、Q2N3634、Q2N3702、Q2N3905 BREAKOUT ADC10break(10位ADC)、ADC12break(12位ADC)、ADC8break(8位ADC)、Bbreak(GaAs場(chǎng)效應(yīng)管)、Cbreak(電容)、DAC10break(10位DAC)、DAC12break(12位DAC)、DAC8break(8位DAC)、Dbreak(二極管)、DbreakZ(穩(wěn)壓二極管)、JbreakN(N溝道結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管)、JbreakP(P溝道結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管)、Lbreak (電感)、MbreakN(N溝道MOS場(chǎng)效應(yīng)管)、Mbrea
63、kP(P溝道MOS場(chǎng)效應(yīng)管)、POT(電位器)、QbreakN(NPN型三極管)、QbreakP(PNP型三極管)、RAM8k×1break(8k×1 RAM)、RAM8k×8break(8k×8 RAM)、Rbreak(電阻)、ROM32k×8break(32k×8 ROM)、Sbreak(電壓控開關(guān))、Wbreak(電流控開關(guān)) Lin_tech LF系列:LF356/LT、LF356A/LT、LF357/LT LM系列:LM101A/LT、LM107/LT、LM108/LT、LM118/LT、LM307/LT、LM308/LT、LM318/LT LT系列:LT1001/LT、
64、LT1002/LT、LT1006/LT、LT1007/LT、LT1008/LT、LT1012/LT、LT1013/LT、LT1014/LT、 OP系列:OP-05/LT、OP-07/LT、OP-15A/LT、OP-16A/LT、OP-215A/LT、OP-227/LT、OP-237/LT、OP-27/LT、OP-37/LT、OP-97/LT OPAMP AD648、AD741、CA3085、CA723、F78M12、HA-2600、HA51-54、L161、LAS1505、LF411、LF412、L101A、LM311、LM317H、LM318、LM324、LM339、MAX402CPA
65、、MC1458、OP-07、OP-27、OP-471A、PM-741、RC723、TL082、uA709、uA723C、uA741、UA771、UA772、 LM7805C、LM7812C、LM7815C、LM7905C、LM7912C、LM7915C、 DIODE 二極管:120NQ045、180NQ045、BY249-300、D1N1190、DIN3063、D1N4148、D1N3600、D1N4001、D1N4933、MBD101、MR2400、MUR105、UT268 穩(wěn)壓二極管:1N4099、1N4372、D1N3501、D1N4460、D1N4954、UT4020
66、 SOURCE DigClock、FileStim1、FileStim16、FileStim2、FileStim32、FileStim4、FileStim8、IAC、IDC、STIM1、STIM16、VAC、VDC、VSIN、VSRC SOURCSTM DigStim1、DigStim2、DigStim4、DigStim16、DigStim32、ISTIM、VSTIM SPECIAL PARAM、CD4000_PWR、ECL_100K_PWR、IC1 XTAL.lib:晶振庫(kù) OPTO.lib:光耦庫(kù) ANA-SWIT.lib:模擬開關(guān)庫(kù)
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